芯片功耗性能验证：从困境到超越
如今，人们对电子产品的功耗要求不断提高，因此，半导体公司争相设计低功耗、高能效的产品。为了在紧迫的市场周期内推出更有竞争力的产品，工程师需要快速测量、精准分析并正确处理功耗数据。传统台式示波器和数字万用表(DMM)等价格过于昂贵，而且很难根据pin脚或产品线进行扩展，而低成本的数据采集解决方案往往精度不足，无法检测到很多像芯片睡眠模式状态下的微小电信号。
面对这一进退两难的困境，一些企业选择仅仅对芯片部分功效进行分析，这将导致芯片高功耗、低品质等问题，最终引起市场机会的大量流失。
要突破上述困境，芯片功耗验证解决方案必须满足下列要求：
★ 提供一种经济高效且一致的方式来测量芯片功耗
★ 使工程师能够简易地进行测试数据采集、可视化和分析
★ 为设计工程师和潜在客户提供准确且相关的反馈
NI芯片功耗和性能验证解决方案
NI芯片功耗和性能验证解决方案具有高准确度和高通道数，有助于加快产品上市时间，您可以使用专用仪器和基于配置的软件来快速设置、测量、记录和可视化功耗测量数据。
NI解决方案采用的组件如下：
★ 使用基于PXI平台的专用高精度、高分辨率仪器，执行基于分流电阻的功耗测量。
★ 自定义测量参数，以优化采样率、分辨率和通道数。
★ 使用FlexLogger™测量软件，无需编程即可配置和执行同步的功率测量。
★ 使用DIAdem数据分析软件，快速定位、检查、分析和报告测量数据。
NI解决方案可进一步提供下列优势
★ 获取可靠且一致的功率测量结果，为设计提供准确的反馈，帮助客户解决问题以及提高竞争力。
★ 体积小巧，具有高可扩展性，且可从几个通道扩展到数百个通道。
★ 快速查看有意义的功耗数据，让设计公司应用工程部门甚至客户更早参与进来为系统级验证提供帮助。
★ 提供完整的功耗测量解决方案，最大化设计和验证效率。
“市面上没有其他产品能够做到与我们同水平的高精度测量。如果NI没有提供这些工具，那么我们就得自行开发这些工具，而这需要多耗费数年的时间。NI让我们能够专注于最重要的事情。”
── 某领先半导体公司的硬件工程师
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